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Diffusion par rayonnement X à petits et grands angles
La technique SAXS est utilisée pour la détermination de la structure à l’échelle nanométrique de particules (taille, forme, distribution, …). Les matériaux étudiés peuvent être solides, liquides ou gazeux. Cette méthode, non destructive, est précise et exige seulement un minimum de préparation. Elle s’utilise aussi bien en recherche qu’en contrôle qualité. Les applications sont très larges : colloïdes, métaux, ciment, argiles, pétrole, polymère, plastiques, protéines, pharmacie…  Instrumentation SAXS -WAXS combinée avec une détection par 2 Imaging plate et une optique type KB (2 miroirs croisés)
Dans un souci de répondre aux besoins de ses clients pour effectuer des mesures sur des échantillons texturés ou des mesures de diffusion X aux petits angles, Inel a conçu une ligne SAXS / WAXS modulable donnant accès à une large gamme d’accessoires. Ce dispositif est évolutif : la distance entre l’échantillon et le détecteur est variable, et l’espace autour de l’échantillon est suffisamment important pour la mise en place de cellules ou de supports « échantillons » particuliers dédiés à la mesure souhaitée (chambres hautes températures, cellule de traction, table de rotation …).  Instrumentation SAXS avec une détection linéaire et une optique, miroir parabolique et fentes Quelques spécificités :
  SAXS-WAXS combiné, 2 montages partageant la même source de rayons X • SAXS avec détection 2D utilisant une détection par Imaging plate • WAXS avec une détection temps réel, modèle CPS 180 Exemples
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Inel France
Z.A. - C.D. 405
45410 Artenay, France
Tél. +33 (0)2 38 80 45 45 | Fax +33 (0)2 38 80 08 14
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