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Inel offre une grande variété de logiciels d'acquisition et de traitement fonctionnant sous Windows ®, pour toutes vos configurations, standard ou personnalisées.
Nos logiciels de traitement permettent d'exploiter des données pour des applications : poudre, haute résolution, contrainte, dosage d'austénite, de texture, etc. Quant à nos logiciels d'acquisition et de pilotage, ils peuvent gérer l'acquisition de nombreux détecteurs (ponctuels ou sensibles en position), gérer la programmation de nos générateurs de rayons X, de cellules pour mesures in-situ, d'ensembles motorisés, etc. Logiciel SYMPHONIX  Collecte de données: affichage en temps réel des données (modes "temps réel ou PSD" ou "pas à pas"), superposition des données, utilisable en même temps que d'autres programmes, collecte de données en cyclique. Impressions, sauvegarde et exporation des données en cours d'acquisition. Affichage 3D disponible.Correction de temps mort pour l'acquisition en mode PSD... Editeur de programme convivial et facile à utiliser. Traitement des données: soustraction du bruit de fond, lissage, suppession de la raie Kalpha2, recherche et traitement des pics (entièrement automatique, ou semi-manuel) : proposition de plusieurs enveloppes, correction des données (excentricité, décalage, absorption), linéarisation des données, conversion de données (ASCII, GSAS, JADE, ...), superposition de données théoriques (fiche calculée) ou expérimentale, taille de cristallites. Outils de calibrage en mode PSD ... Affichage : vue en 2D avec choix des couleurs (jusqu'à 4 axes, changement de couleur, des limites, des unités, des énoncés, …). Vue en 3D pour toutes vos expérimentations nécessitant un éditeur de tâches (mesures in-situ, de réflectométrie, de texture) Exportation des données sous format graphique, bitmap ou PDF (fcihiers XML, XLS, Texte, ...). © Inel France Match! Identification de phase pour diffraction de poudre   Match! est un logiciel conciciale et facile à utiliser pour l'identification de phases à partir des données de diffraction de poudre. Match! compare votre diffractogramme expérimental avec une base de données contenant des modèles de référence pour identifier vos phases. Cette indentification peut se faire sur une ou plusieurs phases à la fois. Comme base de données de référence, vous pouvez utiliser celle incluse gratuitement (Données issues du COD), celle fournie par l'ICSD et/ou celles fournies par l'organisme ICDD. Vous pouvez également créer votre propre bibilothèque à partir de vos données propres, importées ou calculées à partir de la structure cristalline (par exemple des fichiers CIF), ... Copyright © 1997-2011 Crystal Impact GbR Maud - Materials Analysis Using Diffraction - Basé sur la méthode Rietveld (logiciel gratuit) MAUD signifie "Material Analysis Using Diffraction". Il s'agit d'un programme de traitement de données de diffraction basé essentiellement sur la méthode Rietveld method.  Developpé par Dr. Luca Lutterotti Facile à utiliser, contrôle des paramètres S'utilise pour des données issues de DRX classique, de synchrotron, de rayonnement neutronique Développé pour des analyses Rietveld de données obtenues en simultané issues de différents instruments et différentes techniques. Rietveld Workshop
Combined Analysis Using X-ray and Neutron Scattering
Nouvelle date à venir
Initiation au logiciel MAUD
Principales caractéristiques : Utilisation conviviale avec contrôle de chaque action grâce à une interface utilisateur Intégration de solution de structure Ab-initio, de recherche de pic, d'indexation Optimisation possible selon différents algorithmes (LS, Evolutionary, simulés recuit, Metadynamics) Fitting par la méthode Le Bail Analyse quantitative Analyse de la microstructure (taille - déformation, anisotropie et distributions incluses) Analyse de texture et de contraintes résiduelles MEEM et superflip algorithmes pour données de Electron Density Maps et fitting Analyse sur couche mince et multi couches : épaisseur, absorption Réflectométrie par différents modèles Fonctionne avec les images de diffraction TEM et de dispersion électronique Plusieurs fichiers de données d’entrée formats Traitement sur images 2D de diffraction de rayons X possible Conformité CIF pour correspondance avec des bases de données ... © Luca Lutterotti Autres logciels LaboTex, logiciel de traitement pour application Texture Le logiciel LaboTex est un programme complet pour l'analyse de textures cristallographiques. Il permet, de façon conviviale, différents calculs et l'analyse graphique de la fonction de distribution d'orientation (ODF), figures de pôles (PFs) et figures de pôles inverses (IPFs). © LaboSoft s.c. StressDiff, logiciel de traitement pour application Contrainte Développé par Dr. Jean Marie Sprauel, expert en mesure de contrainte résiduelle. Logiciel convicial intégrant toutes les fonctionnalités pour le traitement de mesures de contrainte par diffraction de rayons X. © Jean Marie Sprauel |
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Z.A. - C.D. 405
45410 Artenay, France
Tél. +33 (0)2 38 80 45 45 | Fax +33 (0)2 38 80 08 14
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